ライセンス可能な特許(開放特許)の詳細です。大学特許の利用や大学への技術相談をお考えの企業様等へ技術詳細を紹介します。

開放特許抄録集


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整理番号:0120 印刷用PDF
特許名称 学習効果判定装置
発明者
略歴/業績他 
研究室概要
中川 匡弘

利用分野

学校又は学習塾等の教育機関又は教育担当者

発明の目的 被験者の余剰学習(不必要な情報を捨てる学習)や、連合学習(2つの刺激が時間的に同時又は近接して与えられたとき生じる学習)、及び結果学習(行動した結果に基づく学習)等の学習効果を、コンピュータで自己アフィンフラクタル次元解析を行って客観的に判定することを目的とします。
概要 自己アフィンフラクタル次元変化演算手段によって、安静時における自己アフィンフラクタル次元の平均値を基準として、学習作業時における自己アフィンフラクタル次元の平均値の変化分又は変化率を求めます。次いで、学習効果判定手段によって、学習作業時における自己アフィンフラクタル次元の平均値の変化分又は変化率の学習進行に対する変化の傾向が、学習効果と負の相関を有しているとの判定基準に基づいて、被測定者の学習の効果を判定します。
特徴・効果 本発明によれば、学習作業時における自己アフィンフラクタル次元の平均値の変化分または変化率の変化の傾向から、学習効果を客観的に判定できます。
また、余剰学習が進むことで、作業(タスク)を処理する上で必要な情報だけを取り入れ、処理効率の向上が図れます。
発明の詳細・
図面等

【特許請求の範囲】
被測定者の脳の複数の領域のうち学習機能を有する所定の領域から測定した、安静時及び学習作業時における脳波信号から、自己アフィンフラクタル次元を求める自己アフィンフラクタル次元演算手段と、前記安静時における自己アフィンフラクタル次元の平均値を基準として、前記学習作業時における自己アフィンフラクタル次元の平均値の変化分または変化率を求める自己アフィンフラクタル次元変化演算手段と、前記変化分または変化率の学習進行に対する変化の傾向が、学習効果と負の相関を有しているとの判定基準に基づいて、前記被測定者の学習の効果を判定する学習効果判定手段とを有する学習効果判定装置であって、前記自己アフィンフラクタル次元変化演算手段は、前記安静時における過渡期を除いた安定時期における前記自己アフィンフラクタル次元の平均値と前記学習作業時における過渡期を除いた安定時期における前記自己アフィンフラクタル次元の平均値との差を、前記変化分として演算するか、または前記差を前記安静時における過渡期を除いた安定時期における前記自己アフィンフラクタル次元の平均値によって除算した値を前記変化率として演算することを特徴とする学習効果判定装置。

【詳細】
学習効果判定装置7は、図1のように自己アフィンフラクタル次元演算手段2と、次元記憶手段3と、自己アフィンフラクタル次元変化演算手段4と、次元変化記憶手段5と、学習効果判定手段6とにより構成されます。
この装置を用い、図2の基本プログラムに示すように、脳波信号測定器1からの信号を受けてステップST1で自己アフィンフラクタル次元演算を行い、ステップST2で自己アフィンフラクタル次元の変化率を求め、次いでステップST3で学習効果を判定することにより被測定者の学習効果が判定されます。

図1 学習判定手段のブロック図
学習効果判定手段のブロック図
図2 基本プログラム
学習効果判定のための基本プログラムのステップ
ライセンス情報
  • 特許登録番号:第4994260号
  • 登録日:H24年5月18日(2012年)
  • 権利満了日:H40年2月12日(2028年)
  • 実施許諾:可
  • 権利譲渡:否
事業化情報
  • 実施実績:無し
  • 許諾実績:無し
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